Камера XpeCAM X02 для системы спектрального анализа
Технология спектрального изображения имеет долгую историю в сохранении наследия. С развитием цифровых датчиков, возможности исследований и анализа данных значительно расширились. XpeCAM® – мультиспектральное решение для неразрушающего анализа искусства. Благодаря нему легко измерять площади поверхности, классифицировать пигменты и многое другое.
Решение XpeCAM® предназначено для полноценного исследования культурного наследия, предоставляя углубленное понимание характеристик поверхности без необходимости получения физических образцов. Профессионалы смогут выявлять изменения, происходящие на поверхности, независимо от материала или деградации, а также отслеживать процессы обработки, используя неразрушающий анализ.
XpeCAM® - это компактное и надежное решение, способное значительно обогатить вашу практику исследования и сохранения художественных произведений. Это инструмент, который дает новые исследовательские горизонты и позволяет вам лучше понять, что происходит на поверхности произведений искусства.
Примеры использования в практике:
Живопись на холсте
С использованием XpeCAM® профессионалы могут быстро и надежно анализировать поверхности произведений искусства. Благодаря мультиспектральному устройству сбора данных и автоматизированной платформе обработки, пользователи получают результаты неразрушающего анализа. XpeCAM® позволяет определить распределение материалов на поверхности и отслеживать изменения после вмешательства.
Сравнение визуальных наблюдений и результатов XpeCAM® раскрывает различия в классификации пигментов.
Графика
XpeCAM® раскрывает ранее скрытую информацию и позволяет видеть детали, невидимые невооруженным глазом. Даже зашифрованные или с течением времени исчезнувшие данные становятся доступными без опасной химической обработки. Большие объемы документов могут быть быстро обработаны, что способствует демократичному доступу к новым данным.
XpeCAM® делает видимым то, что скрыто: левая часть изображения показывает цензурированный текст, а правая — результат удаления цифровых чернил.
Настенная живопись
С XpeCAM® можно получить информацию о настенных росписях в пересекающем их свете. Это позволяет анализировать исходные схемы рисования, цветовые палитры и распределение патологий на поверхности. Благодаря широкому спектру красок и рецептов смесей, интерпретация поверхности становится более глубокой и информативной.
Анализ PCA (слева) и усиление материалов псевдоцветом (справа) на иллюстрации позволяют лучше понять особенности настенной живописи.
Система XpeCAM® включает в себя:
- XpeCAM® X02 — мультиспектральное устройство для сбора данных.
- Программное обеспечение XpecEYE — приложение для управления XpeCAM® X02 на локальном компьютере без подключения к Интернету.
- LAMPA Master — широкополосный источник света UV-VIS-IR.
- LAMPA Satellite — опорный источник света, обеспечивающий равномерность освещения.
- XpeCAM® Platform Access — облачное рабочее пространство для обработки, анализа данных и управления процессом.
Как работать с мультиспектральной системой XpeCAM?
- Собирайте данные с помощью технологического автоматизированного оборудования.
- Загружайте данные в платформу XpeCAM® для автоматической обработки и анализа.
Примечательные особенности XpeCAM:
-
Многопараметричная визуализация: Обеспечивает возможность анализа картин в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном спектрах для наилучшего понимания.
-
Анализ пигментов и перекрашиваний: Позволяет характеризовать и визуализировать наличие пигментов и изменений в окраске.
-
Подтверждение безопасности очистки: Обеспечивает возможность мониторинга процессов очистки без риска повреждений.
-
Контроль нанесения лака: Отслеживает равномерное нанесение слоя лака в процессе консервации.
-
Сравнительный анализ выцветания цвета: Позволяет анализировать изменения цвета со временем для более глубокого понимания процессов старения.
Технические характеристики
- Диапазон спектральной чувствительности: 350 - 1200 нм
- Количество фильтров: 30
- Сенсор: 8-битный монохромный
- Разрешение изображения: 6,4 Мп (3088 x 2076 пикселей)
- Стандартный цвет: черный
- Кабель: USB 3.1 Gen 1 — тип C
- Целевой индикатор: да
- Поддержка подсветки (опционально): LAMPA (Wi-Fi)
- Состояние оборудования: светодиодный индикатор
- Монтажный кронштейн: стандартный штатив
- Индекс защиты: IP 10
- Размеры: 8,6 х 18,8 х 19,0 см
- Вес: 2 кг
Положение перед сканированием:
- Положение: лицом к объекту, угол падения 0
- Оптимальное расстояние: прибл. 1,5 м
Объективы:
- Тип крепления (сменный): C-mount
- 35 мм (по умолчанию): формат A4
- 25 мм (опционально): формат A3
Калибровка:
- XDRT: A4 и A3
Доступные режимы
- Автоматический режим
- Спектральный диапазон регистрации: 400 - 1000 нм
- Время сбора: 13 мин.
- Ручной режим
- Спектральный диапазон регистрации: 350 - 1200 нм
- Выбор времени экспозиции: 10 - 1500 мс